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IR21141/IR22141SSPbF
Figures 25-83 provide information on the experimental performance of the IR21141/IR22141SSPbF HVIC. The line
plotted in each figure is generated from actual lab data. A large number of individual samples from multiple wafer lots
were tested at three temperatures (-40 oC, 25 oC, and 125 oC) in order to generate the experimental (Exp.) curve. The
line labeled Exp. consist of three data points (one data point at each of the tested temperatures) that have been
connected together to illustrate the understood trend. The individual data points on the curve were determined by
calculating the averaged experimental value of the parameter (for a given temperature).
10.30
10.25
10.20
10.15
10.10
9.60
9.55
9.50
9.45
9.40
9.35
10.05
10.00
9.95
Exp.
9.30
9.25
9.20
9.15
Exp.
-50
-25
0
25
50
75
100
125
-50
-25
0
25
50
75
100
125
Temperature ( C)
Temperature ( C)
o
Figure 25. V CCUV+ Threshold vs. Temperature
10.45
10.40
10.35
10.30
10.25
10.20
10.15
o
Figure 26. V CCUV- Threshold vs. Temperature
9.70
9.65
9.60
9.55
9.50
9.45
9.40
10.10
10.05
10.00
Exp.
9.35
9.30
9.25
Exp.
-50
-25
0
25
50
75
100
125
-50
-25
0
25
50
75
100
125
Temperature ( C)
600
500
Temperature ( o C)
Figure 27. V BSUV+ Threshold vs. Temperature
1.00
0.90
0.80
o
Figure 28. V BSUV- Threshold vs. Temperature
400
0.70
0.60
Exp.
300
200
100
0
Exp.
0.50
0.40
0.30
0.20
0.10
0.00
-50
-25
0
25
50
75
100
125
-50
-25
0
25
50
75
100
125
Temperature ( C)
Temperature ( C)
o
Figure 29. V BS Quiescent Current vs. Temperature
www.irf.com
22
o
Figure 30. V CC Quiescent Current vs. Temperature
? 2009 International Rectifier
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